服务描述
设备一 相关信息
设备型号:Phase shift MicroXAM
厂家:MicroXAM-3D
技术参数:
垂直扫描范围:30 μm 、100μm、5mm、10mm
垂直扫描分辨率:0.01nm
分辨率:752×480像素(可选1k×1k )
侧向分辨率:0.11-8.8 μm
RMS重复精度:1nm
视场范围:8mm×10mm-0.084mm×0.063mm
校正精度:<<0.1%
反射要求:1%-100%
功能特色:粗糙度、磨损体积、2维/3维形貌
设备二 相关信息
设备型号:Bruke Contour X500
垂直分辨率:亚纳米级
水平分辨率:小于0.38μm
放大倍数:2.75-1000倍
项目介绍
利用白光干涉扫描技术为基础研制而成的用于样品表面微观形貌检测的精密仪器
样品要求
暂无
结果展示
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