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服务描述
IV曲线测试服务
半导体参数测试仪+探针台
半导体参数测试仪型号：Keysight B1500A/ keithley 4200等
探针台型号：Lake Shore PS-100/MPI/TS3000等
测试温度范围:77.5K~473K(液氮控温)
电流测量范围：0.1fA ~ 1A；
电压测量范围：0.5µV ~ 200V；
最小探针直径：5um
特点
①精确的电流-电压（IV）测量，支持点测量、扫描测量、采样和脉冲测量；
②先进的脉冲IV测量和超快IV测量，最低采样间隔为5ns（200MSa/s）支持 NBTI/PBTI、RTN等先进应用；
IV曲线测试仪+EMMI自带探针台
在集成电路行业领域，有时涉及验证及测量半导体电子组件的电性、参数及特性，如电压-电流。集成电路失效分析流程中，I/V Curve的测量往往是非破坏分析的第二步（外观检查排在第一步），可见Curve量测的重要性。米格实验室有IV曲线测试仪搭配微光显微镜自带的探针台，也可以实现开/短路测量，I/V曲线测量，Idd测量，电源泄漏(漏电）测验等测试服务，主要服务于封装测试厂，SMT领域，失效分析等方面。
IV测试仪型号：CT2-512X4S
EMMI自带探针台：SEMICAPS SOM 1100
主要技术参数：
①最大电压：10V
②最大电流:100mA
③X-Y-Z 移动范围：50*50*100 毫米
④可测温度范围：室温
⑤电流源配置 Keithely2450
电压范围：±200V_x000b_电压分辨率：500nV
电流范围：小于等于 1A
电流分辨率：10fA
项目介绍
样品要求
可测样品类型
1）测试材料尺寸：3、6、8、12英寸晶圆级器件；
2）直径30mm以下的碎片级器件；
3）其他器件，需提供封装形式和器件类型确认。
IV测试需要确认信息
①器件类型；
②测试目的；
③样品整体尺寸大小和结构信息（最好附带样品照片）；
④待测样品是小尺寸碎片还是整片晶圆的器件；
⑤测试电极尺寸大小；
⑥具体接电方式：电压范围，精度是否要求，是否需要限流，接电方式（用图示意正负极，正反向及对应电压多大，具体扎针位置），测试温度点，测试步长是否要求；
⑦是否需要现场测试；
⑧测试器件数量。
结果展示
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