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服务描述
服务项：
θ-2θ扫描
摇摆曲线
掠入射XRD（GI-XRD）
倒易空间
注意事项：
采集深度1-3µm
无法识别非晶材料
检测限1atom%
项目介绍
物相分析，晶体结构分析，应力分析
样品要求
块体，薄膜有大于5*5mm的平整面，最大8寸
粉末覆盖20mmx20mmx0.5mm的凹槽
结果展示
案例一：XRD（θ-2θ扫描）
案例二：XRD-氧化镓（020）摇摆曲线
案例三：掠入射XRD（GI-XRD）
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