中国科学院半导体所元器件检测中心是半导体所可靠性试验部门，主要负责电工电子产品的环境和可靠性试验工作。 　　中心资质齐全：具有 CNAS 检测实验室和校准实验室能力认可证书，DILAC 检测实验室和校准实验室能力认可证书；GJB2725A-2001军用校准和测试实验室能力认可证书。 　　中心现有各类环境模拟试验设备30余台（套），可依据GJB548B、GJB128A、GJB360A、GB/T 2423等试验方法标准的要求开展相关试验，试验项目包括机械冲击、振动、恒定加速度、耐湿、盐雾、芯片剪切、键合拉力、粒子碰撞噪声（PIND）、粗细检漏以及高低温循环、贮存、老练、寿命、热冲击等，并可提供相应的试验报告及数据。 　　中心现有人员10人，其中博士5人，硕士2人，可进行元器件的摸底试验、筛选试验、质量一致性检验等工作。同时，可开展元器件的失效机理分析方面的工作。 　　中心热忱欢迎所外单位来所开展相关的试验及元器件失效机理研究工作！